一、掃描電子顯微鏡主要成像信號有哪幾種

掃描電子顯微鏡（SEM）是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品，通過光束與物質(zhì)間的相互作用，來激發(fā)各種物理信息，對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質(zhì)微觀形貌表征的目的。那么你知道掃描電子顯微鏡主要成像信號有哪幾種嗎？

1、對于形貌成像：主要信號是二次電子，背散射電子也有使用。吸收電流成像，是比較特殊的應用，往往用于專門材料檢測。

2、對于成分分布成像：背散射電子，陰極熒光，元素特征X射線等。

二、 掃描電鏡的主要參數(shù)有哪些

掃描電鏡主要參數(shù)：分辨率、放大倍數(shù)、景深。

1、分辨率

分辨率是掃描電鏡最主要的性能指標，對成像而言，它是指能分辨兩點之間的最小距離；對微區(qū)成分分析而言，它是指能分析的最小區(qū)域。掃描電鏡的分辨率通過測定圖像中兩個顆粒(或區(qū)域)間的最小距離來確定的，測定的方法是在已知放大倍數(shù)的條件下，把在圖像上測到的最小間距除以放大倍數(shù)所得數(shù)值就是分辨率。

2、放大倍數(shù)

當入射電子束做光柵掃描時，若電子束在樣品表面掃描的幅度為As，在顯光屏上陰極射線同步掃描的幅度為Ac，則放大倍數(shù)可表示為M=Ac/As。

由于熒光屏的尺寸是不變的，因此，放大倍數(shù)的變化只要通過改變電子束在樣品表面的掃描幅度As來實現(xiàn)。

目前商品化的掃面電鏡的放大倍數(shù)可以從20倍到20萬倍之間連續(xù)調(diào)節(jié)。

3、景深

景深是指透鏡對高低不平的樣品各部位能同時聚焦成像的能力范圍，這個范圍用一段距離表示。

如果景深為Ds，只要樣品表面高低范圍值小于Ds，則在熒光屏上就能清晰地反映出樣品的表面形貌。正是由于掃描電鏡景深大，特別適用于粗糙表面和斷口的分析觀察；圖像富有立體感、真實感、易于識別和解釋。